全新KETT凯特糯米粒观察装置
产品型号：TX-300
简介：糯米粒观察装置 TX-300 是一款专用于稻米类颗粒形态分析的精密光学仪器，适用于实验室对糯米、粳米、籼米等谷物颗粒的表面特征、裂纹、垩白、粒型尺寸等进行高清晰度观测与记录。
该设备通常配备变焦光学系统、环形LED照明和高分辨率数字成像模块，支持多倍率放大（如10×～100×），可清晰呈现糯米粒的微观结构。部分型号集成图像分析软件，能自动测量粒长、粒宽、长宽比、表面破损率等参数，提升检测效率与客观性。
装置操作简便，平台式设计便于样品放置与更换，广泛应用于粮食质检、品种选育、食品加工工艺研究等领域，助力实现糯米品质的标准化评估。