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产品资料

全新SANKO三高X射线荧光薄膜测厚仪
产品型号：EX-731
简介：

SANKO三高X射线荧光涂层测厚仪，采用油浸微型微焦X射线管，搭配比例计数管探测器，通过顶面垂直照射法实现无损测量。针对不同原子序数的镀层，测量范围覆盖0.01μm至70μm，适配多种材质需求。 仪器配备自动对焦CCD彩色相机，直观呈现被测区域，监视器可显示电镀附着力分布。搭配Windows系统软件，支持自定义报告生成，满足数据统计与分析需求。设备工作台尺寸200×200mm，

全新SANKO三高X射线荧光薄膜测厚仪  的详细介绍
X射线源
油浸式微型微焦点X射线管
靶材：钨
管电压：50kV / 管电流：可变
辐照法
顶部垂直照明方法
探测器
比例计数器
可测量范围
原子序数 22-24：0.02 至约 20 µm；
原子序数 25-40：0.02 至约 30 µm；
原子序数 41-51：0.02 至约 70 µm；
原子序数 52-83：0.01 至约 10 µm
样本观测
CCD彩色相机
桌子尺寸
240×220毫米（手动170×110毫米）
被测物体的*大高度
50毫米（手动80毫米，可选150毫米）
主机尺寸
600（宽）x 465（深）x 754（高）

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