全新SANKO三高电阻式薄膜厚度计
产品型号：RST-231
简介：在短时间内（0.7 秒）对绝缘体上的金属薄膜（铜箔、印刷电路板镀层等）进行高精度测量。
它采用四探针（开尔文型）。它不受背面或内层的影响，并且可以测量双面和多层基板，而不会受到背面或内层的影响。
我用的是台式电脑。屏幕很大，很容易看清。
校准和测量都很简便。提供两种量程，可测量厚度为 2 至 120 μm 的金属薄膜。
*多可注册 40 个频道，您可以按用户名、型号或其他标准对它们进行分类管理。
可以保存每个通道的测量数据，并通过设置测量数据的统计项，稍后执行统计处理。
通过设定薄膜厚度的上限和下限，异常值将被通知。