产品信息

特征

• 结构紧凑、成本低廉且易于操作的薄膜厚度测量仪
• 可通过选择光谱仪和光源来选择测量薄膜厚度范围。
• 条件设定和测量操作都很简单，任何人都能轻松完成测量。
• 配备实时监控功能和模拟功能
• 
  测量光斑直径为φ1.2毫米，可测量厚度范围从3纳米到35微米的薄膜，从薄到厚。

 

测量项目

• **反射率测量
• 薄膜厚度分析（10层）
• 光学常数分析（n：折射率，k：消光系数）

 

测量目标

• 功能薄膜、塑料
  透明导电薄膜（ITO、银纳米线）、缓释膜、偏光膜、AR膜、PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA、粘合剂、压敏胶、保护膜、硬涂层、防指纹剂等。
• 半导体化合物
  半导体、硅、氧化物薄膜、氮化物薄膜、光刻胶、碳化硅、砷化镓、氮化镓、磷化铟、砷化铟镓、绝缘体上硅、蓝宝石等。
• 表面处理：
  DLC涂层、防锈剂、防雾剂等。
• 光学材料
  滤光片、增透膜等。
• FPD
  LCD（CF、ITO、LC、PI）、OLED（有机薄膜、封装材料）等。
• 其他
  硬盘驱动器、磁带、建筑材料等。