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产品资料

日本Otsuka大冢电子 智能涂层测厚仪　　
产品型号：SM-100S
简介：

高精度便携式薄膜测厚仪 “ 我想测的时候不能立即测量”、 “测量结果因人而异”、 “测量精度差” 您在测量薄膜厚度时是否遇到过这些问题？这款智能薄膜测厚仪具备以下特点，可以解决您的问题。 ・便于携带至生产现场 ・它很简单，任何人都可以使用。 ・即使是手持式也能进行高精度测量 ・形状不规则的样品也可以进行无损测量

日本Otsuka大冢电子 智能涂层测厚仪　　  的详细介绍

规格
物品 专业版 标准
模型 SM-100P SM-100S
测量方法 反射光谱法（光学干涉法）
测量薄膜厚度范围*1 0.1 至 100 微米（单层）
1 至 100 微米（多层） 		1至50微米（单层）
 
多层支撑 *多 3 层 1层
测量重复性 2.1σ 0.01μm（氧化硅薄膜 1μm）
测量点直径 直径 1 毫米或更小
数据输出格式 以文本格式导出到U盘
体型 尺寸约为 138（宽）x 198（深）x 61（高）毫米
（含凸起部分）
重量 约1.1公斤
运行时间 超过 4 小时（测量期间）
电源电压/功率 AC100-240V/35VA（交流适配器输入）
保护等级 IP30/IK06

*1 当样品折射率为 1.6 时


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