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产品资料

供应Otsuka大冢 薄膜厚度测量光谱仪
产品型号:MCPD
简介:

这是一款多功能多通道光谱检测器,覆盖紫外到近红外波段。它可在短短 5 毫秒内完成光谱测量。由于采用标准光纤,它无需指定样品类型即可与多种测量系统配合使用。除了显微光谱、光源发射和透射/反射测量外,它还可以与软件结合使用,用于物体颜色评估和薄膜厚度测量。

供应Otsuka大冢 薄膜厚度测量光谱仪  的详细介绍

特征
我们提供各种类型的探测器,以满足您的需求。
我们提供三种类型的探测器,共有 12 个波长范围,其中包括**型号 MCPD-9800,我们将根据您的需求和测量应用推荐*佳探测器。

 

通信接口支持USB和LAN
它配备了通用 USB 端口和 LAN 通信功能,可以从远处进行远程测量,从而提供更大的便利性和更广泛的测量应用。

高速、高灵敏度光谱测量
MCPD-9800 使用 512 通道或 1024 通道探测器元件和探测器的内部存储器,可以高灵敏度和高精度地测量紫外、可见光和近红外区域不断变化的发射、透射和吸收光谱,速度可达每 5 毫秒一次(对于 MCPD-9800)。

 

光纤自由光学系统
标准光纤使您可以自由组装光学系统,而不受样品形状或尺寸的限制。它还可以轻松地与其他设备(例如显微镜和大型载物台)结合使用,在广泛的领域中表现出优异的性能。

可靠性
符合日本工业标准 (JIS)!可作为高性能分光光度计使用
MCPD 符合日本工业标准 JIS Z 8724(测量颜色的方法 - 光源颜色)中对分光光度计的所有要求精度标准,因此您可以放心使用。


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