日本NAPSON CORPORATION（核心工业测量品牌）

它是全球**同时自主研发、量产接触式和非接触式两类电阻测量设备的厂商，核心技术覆盖四探针接触式测量、非接触式涡流测量两大方向，还延伸出半导体寿命测试、扩展电阻测量、P/N型检测、晶圆平整度/厚度检测等配套技术，测量温度*高可支持到1200℃。

核心产品线

• ‌接触式全自动设备‌：WS-8800、RG-2000AL，用于半导体晶圆、平板显示的方块电阻全自动分选测量。
• ‌非接触式全自动设备‌：NC-6800、NC-2000FLA，实现晶圆电阻率、平整度的无损全自动测量。
• ‌太阳能电池专用设备‌：RG-200PV，专为太阳能电池硅片设计，电阻率测量范围1mΩ·cm ~ 10kΩ·cm，支持*大210×210mm方形样品，搭载X-Y移动平台，位移分辨率可达0.1μm，内置二维/三维Mapping映射软件生成电阻分布可视化图谱。
• ‌晶圆检测设备‌：FLA-200，支持3~8英寸半导体晶圆的厚度、翘曲度、平整度测量，厚度测量范围200–1200μm，弯曲测量范围±350μm。
• ‌非接触式手动测量仪‌：EC-80、EC-80P，采用涡流感应检测原理，无需探针穿刺样品表面，实现导电薄膜无损测量，EC-80P专为ITO导电玻璃、柔性导电薄膜等易损伤样品设计，避免测试造成工件报废。
• ‌宽量程非接触式设备‌：NC-80MAP，支持2~8英寸晶圆测量，可安装*多4个不同量程探针，覆盖10mΩ/sq ~ 3000Ω/sq的薄层电阻范围，*小测量位置距边缘仅8毫米。
• ‌超高量程非接触式设备‌：CRN-100，采用电晕放电法，测量范围可达10E+9 ~ 10E+15欧姆/平方，适配a-Si、IGZO等高阻薄膜、近似绝缘材料的检测，*大支持300×400mm大尺寸样品。
• ‌P/N电导率检测系列‌：PN-12α（接触式热电动势法）、PN-50α（非接触光伏效应法）、PN-8LP（笔型便携款）、PN-100BI（在线嵌入式模块），覆盖从实验室抽检到太阳能晶片在线检测全场景。
• ‌配套标准器件‌：NRW系列电阻率参考晶圆，用于设备日常校准溯源，保障测量精度符合ASTM国际标准。 

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